SJ 50033.58-1995 半导体光电子器件GF413型绿色发光二极管详细规范
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ID： |
BA185EA810A840B6BF58FF2FEBFE4285 |
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文件大小(MB)： |
0.41 |
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8 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL5961 SJ 50033/58-1995,半导体光电子器件,GF413型绿色发光二极管,详细规范,Semiconductor optoelectronic device,Detail specification for green light,emitting diode for type GF413,1995-05N5 发布1995-12-0I 实施,中华人民共和国电子工业部批准,下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体光电子器体,GF413型绿色发光二极管详细规范 引50033/58T995,Semiconductor Optoelectronic device,Detail specification for green light,emitting diode for type GF413,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了 GF 413型绿色发光二极管的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于军用GF413型绿色发光!二极管（以下简称器件）的研制、生产和采购,1.3 分类,1.3.1 器件的等级,按照GJB 33《半导体分立器件总规范）的规定,提供的质量保证等級为普军和特军两级,分别用字母GP和GT表示,2引用文件,GJB 33-85,GJB 128—86,GJB 2355—83,SJ/Z9014.2—87,半导体分立器件总规范,半导体分立器件试脸方法,半导体发光器件测试方法,半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件,3要求,3.1 概述,各条要求应按照GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构应按照GJB 33中3.5.1,3.5.3,3.5.4J.5.?条和本规范的规定,外形尺寸符合本规范图1的规定,3.2.I 半导体芯片材料,芯片材料为磷化緑,3.2.2 引出端排列,如图1所示,中华人民共和国电子工业部1995.05-25发布1395-12-01 实施,一［一,SJ 50033/58-19951,mm,尺寸,符号,数值尺寸,符号,数值,最小标称最大最小标称最大,A 7,8 — 8.2 e — 2.54 —,B 一— 0.7 F 03 1.2,Bl 0.45 一0.55 L 24 — 一,C 0.45 — 0.55 L1 — — 1.0,OD 5.8 — 6.0 L2 22.5 — —,￠01 4.8 — 5,0 M 5.3 一5.5,图1,3.2.3 封装形式,环氧树脂非空腔封装,见图し,3.2.4 引线长度,可按合同的规定（见本规范6.2条）提供引线长度不同于本规范图1规定的器件,3.3 引线材料和引线涂层,引线材料为铁合金或铜合金,引线涂层镀银或镀金,也可按照合同规定（见本规范第6,2,条）,3.4最大额定值和主要光电特性,3.4.I最大额定值（除另有规定,二mb = 25じ）,h,(mA),1FM,(mA),Vr,(V),Pm,(mW),T?*,(V) (V),30 100 6 90 -40-85 -40*100,注:D 脉冲宽度Q.lms,占空比I八〇,2,SJ 50033/58—1995,3.4.2主要光电特性（Ta = 25匕）,(med),lv,(med),%,(V),スア,(nm),Ch,(PF),I,(⑷,(If= 10mA, /F= 10mA,6 = 30，),(IP=10mA) (ZF=10mA),(v=o,J=lMHz),(Vr = 6V),最小值最大值最小值最大值最小值最大值最小值最大值最小值最大值最小值最大值,5 2.5 — 2.5 560 570 — 50 — 5,3.5标志,根据器件特点,省略GJB 33中器件上的标志,其余按GJB 33的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 筛选（仅对GT级）,筛选按GJB 33和本规范表1的规定,表1筛选步骤和条件（仅对GT级）,序号,检睑或,试验,GJB 128,符号,极限值,单位,方法条件最小值最大值,1,内部目检,（封装前）,2073 放大30倍检验—,芯片完整、电极,完整,一,2 高温寿命1032,T= 10QV,t=24h,— 一一—,3,热冲击,（温度循环）,1051,除最高温度T= 10。￠,最低温度ー40七,循,坏次数10次外,其余,按试验条件Ao,一— 一一,4,恒定加速度,（不要求）,—— 一一一—,5,密封,（不要求）,一一一—,6,高温反偏,（不适用）,— —— — — —,7,申冋电参数測,试,发光强度,正向电压,反向电流,SI/Z 9014.2,4.1.1,SJ 2355.2,SJ 2355.3,rF= 10mA, ￠ = 0,JF= 10mA,Vr = 6V,%,VF,Ir,5,2.5,5,med,V,心,3,SJ 50033/58—1995,续表,序号,检验或,试验,GJB 128,符号,极隈值,単位,方法条件最小值最大值,8 电老化,ムキ30mA,“96h,— 一一,9,最后测试,（老化后72h,内完成）,发光强度,正向电压,SJ/Z 9014,2,4.14,$1 2355.2,10 mA プ 6 = 0,10mA,△九,avf,一,20%初,始值,±50,med,mv,10,巒封,（不要求）,一一一一一,11,外观及机械,检验,2071 放大20倍检验一无气泡、无裂缝—,4.3 鉴定檢验,鉴定检验应按GJB 33和本规范表2、表3和表4的规定,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应包括A组（见表2）、B组（见……
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